粒度粒形分析儀

粒度粒形分析儀 LD020分析系統以多種方式輸出多類特征參數，表征樣品的粒度分布情況，為用戶的生產制造品質管控提供數據支持。

系統支持多視場粒度數據綜合匯總，確保樣本空間滿足統計要求；從而避免取樣數量不足產生的測量偏差，使粒度分析結果更接近生產實際。

粒度粒形分析儀 LD020系統可以通過顆粒尺寸的各類數據表、直方圖、曲線等方式，表征樣品的粒度分布情況。

系統支持自定義常用粉體；依據定義的常用粉體粒度分級參數，統計輸出每類粉體的數量百分比，進而可以對粉體樣品進行命名或定級。

提供專業的粒度分布測量報告，內嵌統計數據、分級直方圖、分布曲線、特征參數、原始圖像和顆粒分類圖像。支持個性化報告模板設計。

技術參數：

1. 可以在圖像上顯示標比例尺、十字網格線、時間等(1μm -100(u m)。

2. 重復性誤差:<5%

3.等效粒徑:等面積圓、等周長圓、等效短徑、等效長徑、

4.粒度統計:體積、面積、顆粒

5.形狀參數:圓度、球形度、凸起度、實積度、延伸度、長徑比、長寬比、橢圓度

6. 光學傳感器:CCD 線性傳感

7.成像系統:1000萬像素

8.具備6級報告過濾功能